納米級鍍層的快速、準確分析日立XRF鍍層分析儀FT160

FT160 XRF鍍層分析儀準確、可靠地測量小部件上的鍍層，有助于您在PCB、半導(dǎo)體晶片和微連接器上維持一致且準確的鍍層。

FT160專為微焦斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，針對小部件的測量優(yōu)化了光學系統(tǒng)和探測器技術(shù)。 產(chǎn)品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點儀,熱導(dǎo)氣體分析儀,GE流量計,OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,ppb微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃氣熱值儀,Kaye溫度驗證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點儀,干燥機露點儀,激光氣體分析儀,便攜式露點儀,便攜式微量氧分析儀，Fei （維修中心，代表處，總代理，分公司，子公司，售后中心，銷售中心，上海辦，辦事處在哪里）

使用FT160 XRF鍍層分析儀可實現(xiàn)更多操作：

高強度X射線——儀器的核心是一個具有30μm光束的新型毛細管光學系統(tǒng)，非常適合微小的半導(dǎo)體圖案和超小組件。

高靈敏度的SDD探測器——這款高性能設(shè)備使計數(shù)速率翻倍，從而提高生產(chǎn)率。日立XRF鍍層分析儀FT160

高清相機——觀察相機的分辨率高，其具有16倍數(shù)字變焦功能，更容易觀察半導(dǎo)體和PCB表面并易于導(dǎo)航。

智能控制器軟件——可對FT160進行依照形狀和圖案自動查找測量位置的編程，以提高測量吞吐量和準確性。

日立XRF鍍層分析儀FT160精密分析
樣品臺定位精度和毛細管X射線光學系統(tǒng)能提供高精度，可測量尺寸小于50µm的部件上的納米級鍍層。

快速分析
與傳統(tǒng)裝置相比，F(xiàn)T160內(nèi)的新型高強度毛細管光學系統(tǒng)和改良版SDD探測器有助于使儀器的測量吞吐量翻倍。

多功能性
大型樣品門有助于輕松裝載和移除部件，同時大型樣品臺可容納各種形狀和尺寸的組件。

耐用性
堅固耐用的機架經(jīng)過設(shè)計和測試，可在具有挑戰(zhàn)性的生產(chǎn)或?qū)嶒炇噎h(huán)境中長時間使用。

FT160的強大功能使其成為工作繁重的實驗室的理想選擇。為維持工作流程，這些實驗室注重準確性、多功能性和分析效率。

日立XRF鍍層分析儀FT160能夠提供：

| 毛細管光學系統(tǒng)和高靈敏度的SDD探測器，以提供準確性。

| 測量尺寸小于50µm的部件。

| 快速結(jié)果和使用簡易性，以支持高吞吐量。

| 用于快速設(shè)置樣品的大型樣品門和樣品臺。

| 進行測試觀察的大型樣品觀察窗。

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