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薄膜厚度測量儀

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更新時間：2021-08-25 08:37:27瀏覽次數(shù)：363次

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北京三尼陽光科技發(fā)展有限公司

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產(chǎn)品簡介

薄膜厚度測量儀

詳細介紹

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尺寸	190 x 265 x 316 mm
重量	12Kg
類型	手動的
測量樣本大小	≤ 4"
測量方法	非接觸式
測量原理	反射計
特征	測量迅速，操作簡單非接觸式，非破壞方式優(yōu)秀的重復性和再現(xiàn)性用戶易操作界面每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能可測量多達3層可背面反射

740)this.width=740" height=33>

活動范圍	150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離)
測量范圍	200Å~ 35㎛(根據(jù)膜的類型)
光斑尺寸	20㎛典型值
測量速度	1~2 sec./site
應用領域	聚合體: PVA, PET, PP, PR ... 電解質: 740)this.width=740"> 半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
選擇	參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST)
探頭類型	三目探頭
nosepiece	Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明類型	12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer