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廣東宏展科技有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)TC
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地延安市
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更新時(shí)間:2021-08-28 20:54:46瀏覽次數(shù):234次
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延安高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱適用于電子、電工、電器、通訊、光纖、LCD、LED、LED背光源、LED節(jié)能燈、LED模組、LED顯示器、LED液晶屏、晶體、電感、PCB、電池、電腦、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等產(chǎn)品的耐高溫、耐低、濕、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。
延安高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱用于試驗(yàn)各種材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突發(fā)、耐熱、耐寒、耐干燥、耐濕等溫濕度環(huán)境模擬的可靠性測(cè)試。通過恒溫恒濕箱以測(cè)試樣品在高溫高濕、低溫低濕、高低溫循環(huán)、高溫低溫恒定的環(huán)境中之適應(yīng)性,以判定產(chǎn)品的質(zhì)量。
適用于電子、電工、電器、通訊、光纖、LCD、LED、LED背光源、LED節(jié)能燈、LED模組、LED顯示器、LED液晶屏、晶體、電感、PCB、電池、電腦、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等產(chǎn)品的耐高溫、耐低、濕、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。
延安高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:A: 0~150℃、B:-20~150℃、C:-40~150℃、D:-60~150℃、E:-70~150℃
2、溫度均勻度:≤±2℃(空載時(shí))
3、溫度波動(dòng)度:±0.5℃(空載時(shí))
4、溫度偏差:≤±2℃
5、降溫速率:0.7~1.2℃/min
6、升溫速度:1.0~3.0℃/min
7、時(shí)間設(shè)定范圍:0~999 小時(shí)
結(jié)構(gòu)及部件:
內(nèi)外箱材質(zhì):內(nèi)箱-USU#304鏡面不銹鋼板; 外箱- USU#304不銹鋼或SUS #304沙紋不銹鋼板噴涂
保溫材質(zhì):硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡+玻璃棉
控制器:P計(jì)裝,韓國TEMI人機(jī)介面觸摸屏控制器,主要配置均采用意大利、丹麥或日本部件
8、電 源: 1ф3W 220V±10%
具有帶電池保護(hù)的RAM,可保存設(shè)備的設(shè)定值和采樣值及采樣時(shí)刻的時(shí)間;*大記錄時(shí)間為350天(當(dāng)采樣周期為1.5ming時(shí))
配U盤一個(gè),PC機(jī)軟件光盤一張(適用簡體(繁體)中文(英文)XP/win7/windows8 32/64位操作系統(tǒng))。通過PC機(jī)軟件編制試驗(yàn)程序并保存到U盤,再從U盤將試驗(yàn)程序調(diào)出并存入控制器中;也可將控制器內(nèi)的程序轉(zhuǎn)存到U盤,再存入PC機(jī)進(jìn)行分析和管理??蓪⒋鎯?chǔ)在控制器內(nèi)記錄的試驗(yàn)曲線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存到U盤上。通過PC機(jī)軟件直接顯示和打印試驗(yàn)數(shù)據(jù)/曲線(該打印數(shù)據(jù)帶不可修改標(biāo)志);或?qū)⒂涗洈?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可由Miccrosoft offce讀取Access數(shù)據(jù)文件??刂破饔涗浀脑囼?yàn)曲線數(shù)據(jù)為;2路溫度-設(shè)定溫度和實(shí)測(cè)溫度;2路濕度-設(shè)定溫度和實(shí)測(cè)濕度(如設(shè)備具有濕度功能;記錄時(shí)刻的時(shí)間)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分:濕熱試驗(yàn)
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