半導體推力測試儀是一種應用于航空、航天等領域的*測試儀器。它可用于測試各種推進系統在推力、推力變化、推力穩(wěn)定性等方面的表現情況。拉力剪切力測試儀芯片測試機臺

　　半導體推力測試儀亦可稱之為大面積推拉力試驗機，可進行拉伸、壓縮、彎曲、剝離、撕裂、剪切、刺破、壓陷硬度、低周疲勞等各項物理力學試驗。還能自動求取大試驗力、斷裂力、屈服HRb、抗拉強度、彎曲強度，彈性模量、伸長率、定伸長應力、定應力伸長、定應壓縮等，故廣泛應用于半導體封裝、LED封裝、智慧卡封裝、通訊電子、汽車電子產業(yè)及各類研究所、大專院校、電子電路失分析與測試等領域。拉力剪切力測試儀芯片測試機臺

設備特點

1.所有傳感器采用高速動態(tài)傳感及高速數據采集系統，確保測試數據的準確無誤。

2.采用公司研發(fā)的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的數據采集系統。

3.采用公司的安全限位及安全限速技術，讓操作得心應手。

4.采用公司的智能燈光控制與調節(jié)系統，減少光源對視力的損傷。

5.標配高清觀察顯微鏡，減少人員視覺疲勞。

6.雙搖桿四向操作及人性化的軟件配置使操作簡單、方便。

7.結合人體學的設計，讓使用人員更加舒適。

8.設備的保護措施，避免因人員誤操作對設備的損壞。

9.強大的研發(fā)實力，根據客戶的需求提供訂制化產品。

10.貼心的售后服務，讓使用人員無后顧之憂。

測試參數

設備型號：LB-8100A

測試精度：傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%

測試范圍：根據客戶產品配置不同量程測試模塊

工作方式：推針及拉針180度垂直與測試產品接觸，確保數據的準確性

傳感器更換方式：手動更換測試模組

操作系統：控制系統+Windows操作界面

平臺夾具：機臺可共用各種夾具，夾具可360度旋轉

X軸行程：75mm

X軸分辨率：+/-0.002mm

Y軸行程：75mm

Y軸分辨率：+/-0.002mm

Z軸行程：80mm

Z軸分辨率：+/-0.001mm

電源：220V±5%

功率：300W(MAX)

外型尺寸：長：500mm寬：550mm高：440mm

重量：80kg