應(yīng)力篩選冷熱沖擊箱仿真不同電子構(gòu)件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費(fèi)用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標(biāo)示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
應(yīng)力篩選冷熱沖擊箱 應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件
2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術(shù)條件
3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4.GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法
5.GB/T 2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法
6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法
7.GJB150.3-1986高溫試驗
8.GJB150.4-1986低溫試驗
售后服務(wù)能力
1、我司專業(yè)維修人員經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn),能滿足您對售后服務(wù)的要求
2、我司檢驗設(shè)備均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)
3、我司校準(zhǔn)識別可達(dá)到*計量標(biāo)準(zhǔn)