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CR校準模體用于測試CR掃描儀系統的所有相關參數，例如基本空間分辨率，清晰度，對比度，MTF，激光束抖動，掃描儀打滑和陰影。這些測試根據ASTM E 2445-05，ISO 16371-1和EN 14784-1標準定期進行。
CR校準模體符合ASTM E 2445-05，EN 14784-1和ISO 16371-1的測試證書以及符合EN 45014的合格聲明
CR校準模體包括2個雙工線IQI和用于陰影校正的測量點，它們在兩個軸方向上排列-全景和橫向。所有需要的信息都通過一次X射線曝光就映射到了印版上，因此無需旋轉CR Phantom即可從第二個軸接收信息。這樣可以提高測試分數的準確性，并節(jié)省大量時間。
CR Phantom有兩種類型可選：13Wire和15 Wire Duplex
技術參數：
測試材料 | 應用 | |
A | T目標–黃銅 | 激光束抖動，MFT檢查，光暈（閃光） |
B | 雙絞線IQI | 基本的空間分辨率，不清晰 |
C | BAM蝸牛 | 中1央光束對準 |
D | 匯聚線對IQI | 線對分辨率 |
E | EL，EC，ER測量點 | 陰影校正 |
F | 盒式磁帶定位器 | 紙盒（圖像板）的位置 |
G | 均質鋁帶 | 掃描滑移，陰影 |
H | 螢石板 | 載板 |
I | 厘米/英寸標尺 | 線性檢查 |
J | 對比靈敏度計 | 對比靈敏度檢查 |
尺寸： 14英寸x 17英寸x 0.75英寸（350 x 430 x 19毫米）
供貨范圍：
CR Phantom，類型1，帶有兩個雙工導線IQI 13D（RT-KT-CR-Phan）
CR Phantom，類型1，帶有兩個雙工線IQI 15D（RT-KT-CR-Phan-15D）
根據ASTM E 2445-05，EN 14784-1和ISO 16371-1的測試證書
符合EN 45014的符合性聲明。
