TE173鋸齒效應測試卡

測試卡介紹

鋸齒效應測試卡TE173設計用于測量鋸齒。測試卡由矩形條組成，其空間頻率取決于所使用的圖像寬度。

鋸齒效應是由兩個光柵的干涉引起的moiré失真。獨立于相機類型，鋸齒效應可能由于動態(tài)光柵和TV線結構的干擾而產生。的百葉簾效應或紡織條紋圖案。

CCD相機具有由空間圖像采樣引起的特殊的內在混疊問題。在相機輸出處獲得的信號的頻譜受到在CCD采樣頻率的倍數(shù)周圍重復的基本頻譜的損害。 CCD采樣頻率取決于CCD尺寸和每個CCD寬度的像素數(shù)量。對于圖像的一些高空間頻率，不滿足由采樣定理規(guī)定的條件，使得基本頻譜和復制頻譜可以被疊加并且引起頻率間跳動。結果就是在圖片中的摩爾紋。

摩爾紋的可視性取決于分析儀的類型，相機的低通光學濾波以及所分析的測試圖案的空間頻率。

在圖像區(qū)域的頂部和底部繪制有水平線，在該水平線上要進行的框架標記，以便通過縮放來修改由照相機看到的空間頻率。

可以使用頻譜分析儀或寬帶視頻示波器進行測量程序。

測量條件

伽瑪校正：關閉

輪廓校正：關閉

顏色校正：打開

頻譜分析儀測量

測量原理在于，在亮度信號Y或編碼Y的光譜分析上，依次定位R，G，B;干擾線由采樣產生。照相機在給定的空間頻率下在測試圖上對準。攝像機輸出與頻譜分析儀的輸入相連。調整光圈，使得白電平對應于700mV / 75歐姆的視覺信號?；O置為0mV。

如果水平CCD像素的數(shù)量是已知的，則可以計算容易位于分析儀屏幕上的采樣頻率：

采樣F（MHz）=水平像素數(shù)/ 52

干擾線的頻率由采樣頻率和測試模式頻率之間的差給出：

干擾F =采樣F — 測試模式F

測量涉及確定測試圖案頻率處的有用信號與干擾頻率處的信號之間的電平差。必須對每個空間頻率重復測量并進行幾次（約10次）以確定平均結果。

TE173鋸齒效應測試卡參數(shù):