電子冷熱沖擊試驗(yàn)箱:驗(yàn)證車載芯片耐候性
產(chǎn)品概述
電子冷熱沖擊試驗(yàn)箱:驗(yàn)證車載芯片耐候性
準(zhǔn)備階段:將車載芯片樣品固定在試驗(yàn)箱內(nèi)的樣品架上,連接電性能測試設(shè)備,確保電氣連接正常。
程序設(shè)置:根據(jù)測試需求,在控制系統(tǒng)中輸入溫度變化曲線、循環(huán)次數(shù)、駐留時(shí)間等參數(shù),模擬車載芯片實(shí)際工作環(huán)境中的溫度變化場景。
測試運(yùn)行:啟動(dòng)試驗(yàn)箱,設(shè)備自動(dòng)完成高低溫環(huán)境的快速切換與穩(wěn)定保持,實(shí)時(shí)監(jiān)測并記錄樣品在測試過程中的溫度變化及性能參數(shù)。
結(jié)果分析:測試結(jié)束后,通過專業(yè)分析軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,結(jié)合芯片外觀檢查與性能復(fù)測,評估芯片在高低溫沖擊下的耐候性能,定位潛在失效點(diǎn)。
核心優(yōu)勢
極速溫變,高效測試:采用三箱式獨(dú)立循環(huán)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)溫度的快速轉(zhuǎn)換,轉(zhuǎn)換時(shí)間最短可達(dá) 5 秒,大幅縮短測試周期,提高測試效率,滿足企業(yè)對車載芯片快速驗(yàn)證的需求。
精準(zhǔn)控溫,數(shù)據(jù)可靠:配備高精度 PID 智能控制系統(tǒng),溫度控制精度可達(dá) ±0.5℃,均勻度 ±2℃,確保測試環(huán)境的一致性與穩(wěn)定性,為芯片耐候性評估提供精準(zhǔn)可靠的數(shù)據(jù)。
模擬真實(shí),場景全面:支持自定義多段式溫度循環(huán)程序,可模擬車載芯片在嚴(yán)寒、酷暑、晝夜溫差、引擎艙高溫等多種復(fù)雜行車環(huán)境下的溫度變化,全面驗(yàn)證芯片在實(shí)際應(yīng)用中的耐候性能。
安全防護(hù),穩(wěn)定運(yùn)行:具備超溫保護(hù)、漏電保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)等多重安全防護(hù)機(jī)制,配合低噪音設(shè)計(jì)與環(huán)保制冷劑,在保障設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的同時(shí),確保操作人員安全與環(huán)境友好。
項(xiàng)目 | 參數(shù) |
溫度范圍 | -70℃ ~ 150℃ |
溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ |
溫度均勻度 | ±2℃ |
升溫速率 | ≥5℃/min(非線性空載) |
降溫速率 | ≥5℃/min(非線性空載) |
沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間 | ≤5min(空載) |
試驗(yàn)箱容積 | 80L/150L/225L/408L/800L(可選) |
電源要求 | AC 380V ±10% 50Hz |