本試驗(yàn)室可用于確定電子產(chǎn)品、組件、材料等在高溫、低溫、恒定溫度、溫度循環(huán)變化等條件下使用和儲(chǔ)存的適應(yīng)性;同時(shí)可進(jìn)行主動(dòng)式機(jī)罩開發(fā)試驗(yàn)并能輔助驗(yàn)證裝配狀態(tài)下安全氣囊/氣簾以及整體式儀表板等產(chǎn)品在高溫、低溫