iMOXS測(cè)量系統(tǒng)使用電子顯微鏡的現(xiàn)有探測(cè)器，能夠以較低的成本通過選定法蘭與所有現(xiàn)有類型的SEM結(jié)合。您可在SEM的電子源與額外的X射線源之間進(jìn)行選擇，從而利用一臺(tái)設(shè)備對(duì)樣品進(jìn)行X射線熒光分析與電子束微量分析。通